Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применения

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применения

Библиографическое описание книги
Автор, составитель, редактор: Жу У. / Уанг Ж. Л.
Тематика: нанотехнологии
Книжная серия: Нанотехнологии
Тип издания: печатное издание
Первый год издания: 2013
Издание: перевод с англ.
Формат: 60×90/16 (в пер.)
Страниц: 576
ISBN: 978-5-9963-1110-1
УДК: 621.3+681.54
ББК: 30.3+22.3
Вид издания: научное издание

Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанобъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям.
Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Использование РЭМ включает изучение наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур.

Книга предназначена не только для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но может быть использована также студентами вузов и разработчиками новых типов растровых электронных микроскопов.

Фрагмент1

1 - Навигация в электронном издании работает частично в зависимости от размера фрагмента.

Электронное издание


Назад в раздел
  
Как купить :: Контакты :: Вакансии :: Файлы издательства :: Карта сайта :: Наши партнёры :: Наши баннеры
Russian version English version