Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий: методы и применение (ЭИ)

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий: методы и применение (ЭИ)

Купить электронную книгу в интернет-магазинах:
litres.ru
rucont.ru

Библиографическое описание книги
Автор, составитель, редактор: Жу У. / Уанг Ж. Л.
Тематика: нанотехнологии
Книжная серия: Нанотехнологии
Тип издания: электронное издание
Первый год издания: 2017
Издание:  пер. с англ.—3-е изд. (эл.)
Формат: 145х225 мм
Страниц: 601
ISBN: 978-5-00101-478-2
УДК: 621.3+681.54
ББК: 30.3+22.3
Вид издания: научное издание

В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий, посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, кванто- вых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур.

Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов.

Книга предназначена для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но будет полезна также студентам вузов и разработчикам новых типов растровых электронных микроскопов.

Фрагмент1

1 - Навигация в электронном издании работает частично в зависимости от размера фрагмента.

Печатное издание


Назад в раздел
  
Как купить :: Контакты :: Вакансии :: Файлы издательства :: Карта сайта :: Наши партнёры :: Наши баннеры
Russian version English version